OMP60超小型3D觸(chu)發式(shi)光學測(ce)頭，用于在各(ge)種大中型加工(gong)中心上進(jin)行工(gong)件找正和檢(jian)測(ce)。它使(shi)在機時間節省90%之多，并可減少(shao)廢品率，降低(di)夾具成本。
與所有雷尼紹光(guang)學（傳統和新型）兼容，因此(ci)用戶(hu)可輕松升級現(xian)有裝置。
成熟的運動機構(gou)設計。
采用調制(zhi)傳輸功能，具(ju)有優異的抗(kang)光干擾能力。
360°傳輸范圍。
超小型設計。
各種激活選項和可(ke)調節(jie)的測(ce)力。
1 μm 2σ重復性(xing)。
我(wo)(wo)們(men)現(xian)在(zai)在(zai)這套(tao)單元上使(shi)用測頭系統(tong)已經超(chao)過6年，它幫我(wo)(wo)們(men)降低了(le)成本，節省了(le)時(shi)間，并(bing)在(zai)工(gong)序控制和一致(zhi)性上都(dou)有(you)了(le)巨大的進步(bu)。
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